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Flexible Messplanung

flexible_inspectionHeutzutage stehen dem Messingenieur eine Vielzahl optischer Sensoren mit unterschiedlichen Eigenschaften sowie physikalischen Messprinzipien zur Verfügung. Je mehr Messprinzipien zur Verfügung stehen (mit ihren charakteristischen Eigenschaften und Feinheiten), desto schwerer wird es den optimalen Sensor für eine spezifische Messaufgabe zu finden. Das Problem wird noch schwieriger, wenn in Kleinserien komplexe Bauteile produziert werden, die eine flexible Inspektion mit unterschiedlichen Sensoren benötigt. Zur Lösung dieser Aufgabe werden multiskalige und multisensorische Inspektionssysteme entwickelt. Zudem werden in der Arbeitsgruppe „3D Oberflächenmesstechnik“ Strategien entwickelt um automatisch einen optimalen Sensor mit entsprechender Parametrisierung auszuwählen, wobei zur Entscheidung dezidierte Sensormodelle zur Verfügung stehen. Zudem wird ein multisensorisches Ansichtenplanungssystem entwickelt, das die automatische und optimale Positionierung der Sensoren anhand einer groben Übersichtsmessung des Objekts plant. Mit diesem System können dann Inspektionen an einem CAD-Modell angelegt und automatisiert geplant sowie durchgeführt werden. Das Ziel ist es ein Inspektionssystem zu entwickeln, dass sich selbst aufgrund gegebener Inspektionsschritte konfiguriert. Dieser Prozess führt unweigerlich zu einem großen Optimierungsproblem, welches die Zusammenhänge zwischen Sensorpositionierung, Signalverarbeitung und zu erwartender Sensorleistung in Betracht zieht.

Aktuelles Projekt: Multisensorische Messsysteme (AMuPrüf)

Veröffentlichungen

  1. Gronle, M.; Lyda, W.; Osten, W., "Model-based, active inspection of three-dimensional objects using a multi-sensor measurement system," In: Proc. SPIE Bd. 8788, 2013, 87880Y-87880Y-9 (2013)
  2. Gronle, M., Lyda, W. and Osten, W., "Concepts for an active inspection of three-dimensional objects using a multi-sensor measurement system," In: Proc. Optics and Measurement (Liberec, Czech Republic), 17-24 (2012)
  3. Gronle, M.; Lyda, W.; Burla, A.; Osten, W, "Extrinsic calibration of a fringe projection sensor based on a zoom stereo microscope in an automatic multiscale measurement system," In: Proc. SPIE Bd. 8430, 84300J-84300J-12 (2012)
  4. Keck, A.; Böhm, M.; Knierim K. L.; Sawodny, O.; Gronle, M.; Lyda, W.; Osten, W., „Multisensorisches Messsystem zur dreidimensionalen Inspektion technischer Oberflächen,“ In: Optomechatronische Messtechnik, tm – Technisches messen 81.6, pp280-288 (2014)
  5. Burla, A., Haist, T., Lyda, W. and Osten, W., "Genetic programming applied to automatic algorithm design in multi-scale inspection systems," Opt. Eng. 51(6), 067001 (2012)
  6. Lyda, W., Burla, A., Haist, T., Gronle, M., Osten, W., "Implementation and analysis of an automated multiscale measurement strategy for wafer scale inspection of micro electromechanical systems". In: International Journal of Precision Engineering and Manufacturing 13, Nr. 4, S. 483-489 (2012)
  7. Burla, A., Haist, T., Lyda, W., Osten, W., "Fourier descriptors for defect indication in a multiscale and multisensor measurement system," Opt. Eng. 50(4), 043603 (2011)
  8. Burla, A., Haist, T., Lyda, W., Aissa, M. and Osten, W., "Assistant systems for efficient multiscale measurement and inspection," Proc. SPIE 8082, 808202 (2011)
  9. Burla, A., Haist, T., Lyda, W., Osten, W., "An assistance system for the selection of sensors in multi-scale measurement systems. In: Proc. SPIE Bd. 7791, 77910I-77910I-10 (2010)
  10. Lyda, W., Burla, A., Haist, T., Zimmermann, J., Osten, W. and Sawodny, O., "Automated Multi-Scale Measurement System for MEMS-Characterization," Proc. SPIE 7718, 77180G (2010)
  11. Osten, W., Andrä, P., Kayser, D, "Highlyresolved measurement of extended technical surfaces with scalable topometry," In: Technisches Messen 66 Nr. 11, 413-428 (1999)