Aktuell arbeiten wir an den folgenden Gebieten:
- Verbesserte Genauigkeit bei der aktiven Triangulation durch Speckle-Reduktion
- Verbesserte Genauigkeit von 2D- und 3D-Punkt- und Kantenmessungen mit "Multipoints"
- Multi-Stereo-Vision
- Neue konfokale Single Shot Methoden.
Für weitere Informationen schauen Sie sich die aktuellen Projekte an oder fragen Sie ein Gruppenmitglied.
Fig. 1: white light interferometric sensor at SWIR wavelengths to measure topographies below encapsulated microsystems